海德漢歷史與產品研發的里程碑

本公司開始於Wilhelm Heidenhain在1889年在柏林成立了金屬蝕刻廠， 這間工廠製造模板、標牌、刻度以及尺標。 工廠在第二次世界大戰中遭到摧毀之後，Wilhelm Heidenhain的兒子成立了DR. JOHANNES HEIDENHAIN公司。 第一項產品同樣是零售交易用的刻度以及價格尺標。 緊接著，進入工具機光學位置量測系統的程式設計階段。 在六零年代初期，轉換成具備光電掃描功能的線性與角度編碼器， 這些研發首次讓製造業內的許多機器與系統能夠自動執行。

從七零年代中期開始，海德漢已經成為日漸重要的工具機數值控制以及驅動技術製造商。

從一開始，公司就往高技術方向邁進。 為了確保公司永續經營及其技術方向，Johannes Heidenhain博士於1970年用持有的公司股份成立一個基金會， 這讓現在的海德漢對於研發的投資決不手軟。

歷史里程碑

1889年

於柏林成立W. HEIDENHAIN金屬蝕刻公司

1923年

Johannes Heidenhain博士進入父親的公司

1948年

於Traunreut成立DR. JOHANNES HEIDENHAIN公司

1950年

發明DIADUR處理： 將主刻度複製到玻璃上，產生耐用的精準刻度

1970年

成立非營利的DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTUNG有限公司

1980年

Johannes Heidenhain博士辭世

2014年

海德漢成為所有工業化國家的代表

度量衡項目

1961年光電量測顯微鏡
1966年德國國家計量機構(PTB)的干涉比較儀
1971年PTB的角度量測台以及圓形尺測試裝置
1977年PTB的精密測角儀
1989年新技術望遠鏡(NTT)的角度編碼器
1999年超大型望遠鏡(VLT)的角度編碼器
1999年用於許多國家計量機構之間國際NANO-3長度量測比較的光學尺
2001年PTB的奈米干涉比較儀
2003年海德漢、PTB與AIST (日本國家研究機構)之間的角度量測比較
2004年海德漢、PTB與MITUTOYO之間的長度量測比較
2004年GRANTECAN望遠鏡(Gran Telescopio CANARIAS)的角度編碼器
2005年海德漢與PTB之間的角度量測比較
2007年25個歐洲ALMA天線的角度編碼器(Atacama大型望遠鏡陣列)
2013年

Daniel K. Inouye太陽望遠鏡的角度編碼器(DKIST，先前的先進技術太陽望遠鏡，ATST)

刻度里程碑

1936年

精準度達± 0.015 mm的相片製版玻璃尺

1943年

精準度達± 3秒的複製圓形尺

1952年

體重計成為主要收入來源

1967年

微型結構的自支撐光柵

1985年

增量式光學尺的距離編碼式參考記號

1986年

相位光柵尺

1995年

方格光柵的雙軸座標編碼器

2002年

干涉光學尺的平面相位光柵結構

2005年

利用雷射剝離製造的耐污染振幅光柵

2009年

半導體產業中量測系統所使用的大面積方格光柵(400 mm x 400 mm)

編碼器里程碑： 開放型光學尺

1952年

工具機的光學尺

1961年

LID 1增量式光學尺，光柵週期8 µm/量測步階2 µm

1963年

LIC絕對式光學尺，具有18軌、純二進位碼/量測步階5 µm

1965年

雷射干涉儀用於工具機校正

1987年

LIP 101開放型干涉式光學尺，量測步階0.02 µm

1989年

LIP 301開放型干涉式光學尺，量測步階1 nm

1992年PP 109R二維干涉光學尺

2008年

LIP 200干涉光學尺，具有信號週期0.512 µm、移動速度高達3 m/s

2010年

LIC 4000絕對式開放型光學尺，具有2軌、偽隨機碼、EnDat 2.2，量測長度達27 m並且解析度1 nm

2012年

LIC 2100絕對式單軌光學尺 
2015年LIP 6000超小型干涉光學尺

編碼器里程碑： 密封型光學尺

1952年

工具機的光學尺

1966年

LIDA 55.6密封型增量式光學尺，含鋼尺

1975年

LS 500增量式光學尺，具玻璃刻度、量測長度達3 m、量測步階10 µm 

1977年

LIDA 300增量式光學尺，量測長度達30 m 

1994年

LC 181密封型絕對式光學尺，具有7軌、EnDat介面、量測長度3 m、量測步階0.1 µm

1996年

LC 481絕對式光學尺，具有2軌、 PRC、EnDat、量測長度達2 m

2011年

LC 200絕對式光學尺，量測長度達28 m、PRC、量測步階10 nm

2014年LC xx5絕對式光學尺，量測長度達4 m、量測步階1 nm
2015年LP 100增量式光學尺，量測長度達3 m、量測步階31.25 pm

編碼器里程碑： 角度編碼器

1952年

光學角度編碼器

1957/1961

ROD 1光電角度編碼器，具有每圈40,000個信號週期，10,000條信號線

1962年

ROD 1具有每圈72,000個信號週期

1964年

ROC 15絕對式角度編碼器/解析度17位元

1975年

ROD 800增量式角度編碼器，精準度± 1秒

1986年

RON 905增量式角度編碼器，精準度± 0.2秒

1997年

RCN 723,絕對式角度編碼器，具有位於中空轉軸內的整合定子連接裝置、單圈23位元、EnDat介面、精準度± 2秒

2000年

ERP 880 干涉角度編碼器，具有每圈180,000個信號週期，精準度± 0.2秒

2004年

RCN 727絕對式角度編碼器，具有直徑高達100 mm的中空轉軸

2009年

ROP 8080 干涉角度編碼器，用於晶圓探測儀，結合負載承載與角度編碼器、每圈360,000個信號週期

2011年

ERP 1080單晶片編碼器設計中最小型的干涉角度編碼器

編碼器里程碑： 旋轉編碼器

1957/1961

ROD 1增量式光電旋轉編碼器，具有10,000條信號線

1964年ROD 2 / ROD 4串聯增量式標準旋轉編碼器

1981年

ROD 426增量式旋轉編碼器：工業標準型

1987年

ROC 221 S絕對式多轉編碼器，單圈12位元、多圈9位元

1992年

ERN 1300增量式旋轉編碼器，用於伺服驅動器，操作溫度高達120 °C

1993年

ECN 1300和EQN 1300絕對式單轉與多轉旋轉編碼器

2000年

EQN 1100最小型絕對式多轉旋轉編碼器，具有內建晶片技術

2000年

ECN 100絕對式單轉旋轉編碼器，具有直徑高達50 mm的中空轉軸

2004年

ECI 1100和EQI 1100最小型絕對式單轉與多轉旋轉編碼器(含感應掃描)

2007年

絕對式旋轉編碼器，具有「功能安全性」應用於SIL2/PL d以及EnDat 2.2介面 SIL2/PL d以及EnDat 2.2介面

2012年ERN 1387增量式掃描，在
創新掃描技術之下具有改善的精準度
2014年絕對式旋轉編碼器，應用於SIL3/PL e、EnDat 2.2介面以及故障限外

NC控制器與電子裝置的里程碑

1968年

VRZ 59.4單軸雙向計數器

1974年

HEIDENHAIN 5041數值位置顯示單元

1976年

TNC 110和TNC 1203軸數值定位控制器

1979年

TNC 131 / TNC 135數值直切控制器

1981年

TNC 1453軸數值輪廓控制器

1984年

TNC 1554軸數值輪廓控制器，含工件加工的圖形模擬

1995年

EnDat同步序列介面，用於絕對式位置編碼器

1996年

TNC 426具有數位驅動控制5軸的輪廓控制器

1996年

TNC 410 MA包含變頻器與馬達的海德漢完整套件

2004年

iTNC 530具有替代操作模式smarT.NC的輪廓控制器

2007年

TNC 620具有HSCI序列控制器介面的輪廓控制器

2011年

TNC 640 用於結合銑削與車削操作的輪廓控制器