LIF 400 V 系列

真空應用的增量式光學尺

  • 用於最長 1640 mm 的高精度線性軸   
  • 非常小的量測步距(<2 nm) 
  • 透過極限開關歸零原點的定位偵測
  • 介面:1 VPP、TTL
  • 真空友善 PCB、黏合劑和塗料可減少釋氣
  • 通風孔可加快泵送速度 
  • 高烘烤溫度下的溫度穩定性
  • 非鐵磁性材料,處理可靠性高
  • 包裝前烘烤,清潔度高

容易安裝

短信號週期通常需要非常窄的公差,用於掃描頭與量測標準之間的間隙。但海德漢的開放型光學尺具有寬安裝公差,且易於安裝。在這些寬公差內,輸出信號的品質幾乎不受影響。

高精度掃描

LIF 400 光學尺使用干涉掃描技術來讀取相位光柵,結果是極小的量測步長和高精度。此外,其掃描頭在操作期間不會明顯升溫,從而避免與溫度相關的錯誤。

一致的高信號品質

海德漢開發的 ASIC HSP 1.0 確保始終如一的高掃描信號品質。如果信號幅度降低,ASIC 會增加 LED 電流,在污染的情況下保持理想的信號形狀,同時保持較低的雜訊成分。

快速參考

內建歸零功能可實現位置偵測,進而加快系統參照速度。這對於長軸來說是一個明顯的優點。這些編碼器另具有整合限制功能,無需額外措施即可實現可靠的終端位置偵測。 

用於高真空應用

真空技術在許多最先進的研究和生產過程中發揮關鍵作用,包括電子製造、薄膜技術、材料研究、生物技術、醫療技術和高科技實驗室設備。

高通用性

由於其許多卓越的功能,LIF 400 編碼器可普遍使用。其高整合密度賦予其重量輕和外形緊湊的額外優勢。

產品版本

開放型光學尺由 量測標準 和 掃描頭組成, 請從清單中選擇這兩個組件。如需進一步的諮詢支援,請通過電話或電子郵件或我們的 聯絡表聯絡我們的銷售部門。

量測標準

讀頭