PP 281

PP 281可以僅用一個讀頭測量兩個軸。其直接的二維量測可實現非常短的量測迴路。這減少了不利影響並顯著提高了測量精度。

PP 281二維光學尺使用干涉掃描。其尺身為將光柵蝕刻在玻璃陶瓷上。該光學尺具有非常小的量測步距和極高的精度。

由於非常短的信號周期和高分辨率，此編碼器非常適合高精度應用。對於此類高精度編碼器，安裝公差異常寬，安裝方便。