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用於量測站和多長度規量測的長度規

HEIDENHAIN 與 NUMERIK JENA 的長度規,即使在 大範圍量測行程中,依然能提供 極高的精度。這些長度規 廣泛 應用於任何需要快速、可靠且精確量測的場合,例如:生產計量、多重夾具、量測設備監控以及位置量測。

METRO 系列

  • 增量式長度規
  • 系統精度:±1 µm / ±0.5 µm / ±0.2 µm
  • 量測範圍高達100 mm
  • 高重複精度
  • 低量測力版本 
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SPECTO 系列

  • 增量式長度規
  • 系統精度:±1 µm
  • 量測範圍高達 30 mm
  • 防塵、防潑水
  • 高緊湊設計
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ACANTO 系列

  • EnDat 介面的絕對式長度規
  • 系統精度:±2 µm / ±1 µm
  • 量測範圍高達 30 mm
  • 序列資料傳輸
  • 防塵、防潑水
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CERTO 系列

  • 增量式長度規
  • 干涉掃描原理具有極高的準確性
  • 系統精度低至 ±0.03 µm
  • 量測範圍高達 60 mm
  • 已定義的熱行為
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