開放型光學尺

開放型光學尺由光學尺、光學尺身及掃描讀頭所組成。尺的光電掃描方法是免接觸且無磨損的,可檢測寬度僅為微米的刻度線並產生信號周期非常短的輸出信號。 

LIC 4100 系列

  • 絕對式光學尺
  • 高精度和長量測長度
  • 不同的安裝選項
  • 蝕刻於鋼製尺帶、玻璃陶瓷或玻璃上
  • 具有功能安全的版本
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LIC 3100 系列

  • 絕對式光學尺
  • 高精度和長量測長度
  • 許多安裝選項
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LIC 2100 系列

  • 絕對式光學尺
  • 寬安裝公差
  • 用於簡單應用
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LIP 300 系列

  • 增量式光學尺
  • 精確度非常高
  • 極小的信號週期
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LIP 200 系列

  • 增量式光學尺
  • 精確度非常高
  • 極小的信號週期 
  • 高移動速度
  • 較大量測長度
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LIP 6000 系列

  • 增量式光學尺
  • 精確度非常高
  • 高移動速度
  • 較大量測長度
  • 用於緊湊的安裝空間
  • 極限開關與歸零原點
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LIF 400 系列

  • 增量式光學尺
  • 精確度非常高
  • 方便的背膠黏著固定光學尺 
  • 極限開關與歸零原點
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LIDA 400 系列

  • 增量式光學尺
  • 高精度和長量測長度
  • 不同的安裝選項
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LIDA 200 系列

  • 增量式光學尺
  • 寬安裝公差
  • 用於簡單應用
  • 具備訊號顯示燈號,易於安裝
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PP 281二維光學尺

  • PP 281增量式二維光學尺
  • 大面積蝕刻光柵結構
  • 共平面高精度位置量測
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