PP 281

增量式二維光學尺

  • 用於平面內的精確位置量測
  • 測量步距從 1 µm 到 0.05 µm
  • 介面:1 VPP

短量測迴圈

PP 281可以僅用一個讀頭測量兩個軸。其直接的二維量測可實現非常短的量測迴路。這減少了不利影響並顯著提高了測量精度。

高精度掃描

PP 281二維光學尺使用干涉掃描。其尺身為將光柵蝕刻在玻璃陶瓷上。該光學尺具有非常小的量測步距和極高的精度。

容易安裝

由於非常短的信號周期和高分辨率,此編碼器非常適合高精度應用。對於此類高精度編碼器,安裝公差異常寬,安裝方便。

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