海德漢歷史與產品研發的里程碑

本公司開始於Wilhelm Heidenhain在1889年在柏林成立了金屬蝕刻廠, 這間工廠製造模板、標牌、刻度以及尺標。 工廠在第二次世界大戰中遭到摧毀之後,Wilhelm Heidenhain的兒子成立了DR. JOHANNES HEIDENHAIN公司。 第一項產品同樣是零售交易用的刻度以及價格尺標。 緊接著,進入工具機光學位置量測系統的程式設計階段。 在六零年代初期,轉換成具備光電掃描功能的線性與角度編碼器, 這些研發首次讓製造業內的許多機器與系統能夠自動執行。

從七零年代中期開始,海德漢已經成為日漸重要的工具機數值控制以及驅動技術製造商。

從一開始,公司就往高技術方向邁進。 為了確保公司永續經營及其技術方向,Johannes Heidenhain博士於1970年用持有的公司股份成立一個基金會, 這讓現在的海德漢對於研發的投資決不手軟。

歷史里程碑

1889年

於柏林成立W. HEIDENHAIN金屬蝕刻公司

1923年

Johannes Heidenhain博士進入父親的公司

1948年

於Traunreut成立DR. JOHANNES HEIDENHAIN公司

1950年

發明DIADUR處理: 將主刻度複製到玻璃上,產生耐用的精準刻度

1970年

成立非營利的DR. JOHANNES HEIDENHAIN-STIFTUNG有限公司

1980年

Johannes Heidenhain博士辭世

2014年

海德漢成為所有工業化國家的代表

度量衡項目

1961年光電量測顯微鏡
1966年德國國家計量機構(PTB)的干涉比較儀
1971年PTB的角度量測台以及圓形尺測試裝置
1977年PTB的精密測角儀
1989年新技術望遠鏡(NTT)的角度編碼器
1999年超大型望遠鏡(VLT)的角度編碼器
1999年用於許多國家計量機構之間國際NANO-3長度量測比較的光學尺
2001年PTB的奈米干涉比較儀
2003年海德漢、PTB與AIST (日本國家研究機構)之間的角度量測比較
2004年海德漢、PTB與MITUTOYO之間的長度量測比較
2004年GRANTECAN望遠鏡(Gran Telescopio CANARIAS)的角度編碼器
2005年海德漢與PTB之間的角度量測比較
2007年25個歐洲ALMA天線的角度編碼器(Atacama大型望遠鏡陣列)
2013年

Daniel K. Inouye太陽望遠鏡的角度編碼器(DKIST,先前的先進技術太陽望遠鏡,ATST)

刻度里程碑

1936年

精準度達± 0.015 mm的相片製版玻璃尺

1943年

精準度達± 3秒的複製圓形尺

1952年

體重計成為主要收入來源

1967年

微型結構的自支撐光柵

1985年

增量式光學尺的距離編碼式參考記號

1986年

相位光柵尺

1995年

方格光柵的雙軸座標編碼器

2002年

干涉光學尺的平面相位光柵結構

2005年

利用雷射剝離製造的耐污染振幅光柵

2009年

半導體產業中量測系統所使用的大面積方格光柵(400 mm x 400 mm)

編碼器里程碑: 開放型光學尺

1952年

工具機的光學尺

1961年

LID 1增量式光學尺,光柵週期8 µm/量測步階2 µm

1963年

LIC絕對式光學尺,具有18軌、純二進位碼/量測步階5 µm

1965年

雷射干涉儀用於工具機校正

1987年

LIP 101開放型干涉式光學尺,量測步階0.02 µm

1989年

LIP 301開放型干涉式光學尺,量測步階1 nm

1992年PP 109R二維干涉光學尺

2008年

LIP 200干涉光學尺,具有信號週期0.512 µm、移動速度高達3 m/s

2010年

LIC 4000絕對式開放型光學尺,具有2軌、偽隨機碼、EnDat 2.2,量測長度達27 m並且解析度1 nm

2012年

LIC 2100絕對式單軌光學尺 
2015年LIP 6000超小型干涉光學尺

編碼器里程碑: 密封型光學尺

1952年

工具機的光學尺

1966年

LIDA 55.6密封型增量式光學尺,含鋼尺

1975年

LS 500增量式光學尺,具玻璃刻度、量測長度達3 m、量測步階10 µm 

1977年

LIDA 300增量式光學尺,量測長度達30 m 

1994年

LC 181密封型絕對式光學尺,具有7軌、EnDat介面、量測長度3 m、量測步階0.1 µm

1996年

LC 481絕對式光學尺,具有2軌、 PRC、EnDat、量測長度達2 m

2011年

LC 200絕對式光學尺,量測長度達28 m、PRC、量測步階10 nm

2014年LC xx5絕對式光學尺,量測長度達4 m、量測步階1 nm
2015年LP 100增量式光學尺,量測長度達3 m、量測步階32.5 pm

編碼器里程碑: 角度編碼器

1952年

光學角度編碼器

1957/1961

ROD 1光電角度編碼器,具有每圈40,000個信號週期,10,000條信號線

1962年

ROD 1具有每圈72,000個信號週期

1964年

ROC 15絕對式角度編碼器/解析度17位元

1975年

ROD 800增量式角度編碼器,精準度± 1秒

1986年

RON 905增量式角度編碼器,精準度± 0.2秒

1997年

RCN 723,絕對式角度編碼器,具有位於中空轉軸內的整合定子連接裝置、單圈23位元、EnDat介面、精準度± 2秒

2000年

ERP 880 干涉角度編碼器,具有每圈180,000個信號週期,精準度± 0.2秒

2004年

RCN 727絕對式角度編碼器,具有直徑高達100 mm的中空轉軸

2009年

ROP 8080 干涉角度編碼器,用於晶圓探測儀,結合負載承載與角度編碼器、每圈360,000個信號週期

2011年

ERP 1080單晶片編碼器設計中最小型的干涉角度編碼器

編碼器里程碑: 旋轉編碼器

1957/1961

ROD 1增量式光電旋轉編碼器,具有10,000條信號線

1964年ROD 2 / ROD 4串聯增量式標準旋轉編碼器

1981年

ROD 426增量式旋轉編碼器:工業標準型

1987年

ROC 221 S絕對式多轉編碼器,單圈12位元、多圈9位元

1992年

ERN 1300增量式旋轉編碼器,用於伺服驅動器,操作溫度高達120 °C

1993年

ECN 1300EQN 1300絕對式單轉與多轉旋轉編碼器

2000年

EQN 1100最小型絕對式多轉旋轉編碼器,具有內建晶片技術

2000年

ECN 100絕對式單轉旋轉編碼器,具有直徑高達50 mm的中空轉軸

2004年

ECI 1100EQI 1100最小型絕對式單轉與多轉旋轉編碼器(含感應掃描)

2007年

絕對式旋轉編碼器,具有「功能安全性」應用於SIL2/PL d以及EnDat 2.2介面 SIL2/PL d以及EnDat 2.2介面

2012年ERN 1387增量式掃描,在
創新掃描技術之下具有改善的精準度
2014年絕對式旋轉編碼器,應用於SIL3/PL e、EnDat 2.2介面以及故障限外

NC控制器與電子裝置的里程碑

1968年

VRZ 59.4單軸雙向計數器

1974年

HEIDENHAIN 5041數值位置顯示單元

1976年

TNC 110TNC 1203軸數值定位控制器

1979年

TNC 131 / TNC 135數值直切控制器

1981年

TNC 1453軸數值輪廓控制器

1984年

TNC 1554軸數值輪廓控制器,含工件加工的圖形模擬

1995年

EnDat同步序列介面,用於絕對式位置編碼器

1996年

TNC 426具有數位驅動控制5軸的輪廓控制器

1996年

TNC 410 MA包含變頻器與馬達的海德漢完整套件

2004年

iTNC 530具有替代操作模式smarT.NC的輪廓控制器

2007年

TNC 620具有HSCI序列控制器介面的輪廓控制器

2011年

TNC 640 用於結合銑削與車削操作的輪廓控制器